The use of an optically trapped microprobe for scanning details of surface.
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F03%3A12030098" target="_blank" >RIV/68081731:_____/03:12030098 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
The use of an optically trapped microprobe for scanning details of surface.
Popis výsledku v původním jazyce
We present two methods for surface profiles measurement using optically trapped probe in tightly focused laser beam (optical tweezers). The first method is based on a continuous contact of the probe with the surface (contact mode) and the second one employes the alternating contact (tapping mode). The probe deviations are detected by two-photon fluorescence excited by the trapping beam and emitted by the trapped dyed probe.
Název v anglickém jazyce
The use of an optically trapped microprobe for scanning details of surface.
Popis výsledku anglicky
We present two methods for surface profiles measurement using optically trapped probe in tightly focused laser beam (optical tweezers). The first method is based on a continuous contact of the probe with the surface (contact mode) and the second one employes the alternating contact (tapping mode). The probe deviations are detected by two-photon fluorescence excited by the trapping beam and emitted by the trapped dyed probe.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA101%2F00%2F0974" target="_blank" >GA101/00/0974: Mikroskopie s lokální sondou drženou optickými silami</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2003
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of the 13th Polish-Czech-Slovak Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics (Proc. SPIE 5259).
ISBN
—
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
166-169
Název nakladatele
SPIE-The International Society for Optical Engineering
Místo vydání
Washington
Místo konání akce
Krzyzowa [PL]
Datum konání akce
9. 9. 2002
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—