Aparatura pro měření totálních hemisférických emisivit a absorptivit tepelného záření při kryogenních teplotách

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00047188" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00047188 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Aparatura pro měření totálních hemisférických emisivit a absorptivit tepelného záření při kryogenních teplotách

Popis výsledku v původním jazyce

Byla vyvinuta aparatura pro měření totálních hemisférických emisivit a absorptivit tepelného záření při kryogenních teplotách. Teplotní závislosti emisivit a absorptivit pro různé materiály je možné měřit standardně v rozsahu teplot 20 ? 140 K, v některých případech lze teplotní rozsah rozšířit na 5 ? 300 K. Měřené vzorky materiálů musí být rovinné s průměrem 40 mm. Obdobné měřící zařízení nebylo publikováno.

Název v anglickém jazyce

Apparatus for the measurement of total hemispherical emissivity and absorptivity of radiative heat at cryogenic temperatures

Popis výsledku anglicky

Apparatus for the measurement of total hemispherical emissivity and absorptivity of radiative heat at cryogenic temperatures was developed. Temperature dependence of those for various materials are measured standardly at the temperature region 20 ?140 Kand may be enhanced to 5 ?300 K in some cases. Samples of materials measured must be plane and with diameter of 40 mm. Similar measurement apparatus was not published.

Druh

X - Nezařazeno

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/IBS2065109" target="_blank" >IBS2065109: Materiály pro kryotechniku a měření jejich emisivit</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů