Přesné výpočty pomocí MKP prvního řádu a trasování částic v částicové optice

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00100004" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00100004 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Accurate FOFEM computations and ray tracing in particle optics

Popis výsledku v původním jazyce

It is shown that accurate 2D FOFEM programs developed in our institute are available for computations of lenses, deflection systems and correcting multipoles. With some limitations we calculate also spectrometers or detectors. High accuracy of computed potential allows the evaluation of aberrations from accurate ray tracing. Application of the software will be shown on the design of a low voltage electrostatic SEM with cathode lens and Wien filter, intended for detection of angular and energy distribution of low energy electrons

Název v anglickém jazyce

Accurate FOFEM computations and ray tracing in particle optics

Popis výsledku anglicky

It is shown that accurate 2D FOFEM programs developed in our institute are available for computations of lenses, deflection systems and correcting multipoles. With some limitations we calculate also spectrometers or detectors. High accuracy of computed potential allows the evaluation of aberrations from accurate ray tracing. Application of the software will be shown on the design of a low voltage electrostatic SEM with cathode lens and Wien filter, intended for detection of angular and energy distribution of low energy electrons

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA202%2F03%2F1575" target="_blank" >GA202/03/1575: Tvorba obrazu v nízkoenergiovém rastrovacím elektronovém mikroskopu prostřednictvím snímání úhlového rozdělení signálních elektronů</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Electron Microscopy and Analysis 2003: Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference (Ser. No. 179)

ISBN

0-750-30967-9

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

169-172

Název nakladatele

Institute of Physics

Místo vydání

Oxford

Místo konání akce

Oxford

Datum konání akce

3. 9. 2003

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—