Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Výpočet proudové hustoty svazků nabitých částic

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00109048" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00109048 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Calculation of Current Density Profiles of Charged-Particle Beams

  • Popis výsledku v původním jazyce

    A method and a program for calculation of current density profiles was developed. It simulates the propagation of a charged-particle beam in an optical system. Since it requires data of positions of a high number (billions - 109) of particles on a giventarget, analytical expressions for paraxial position and aberrations are used for calculation, that are very fast to evaluate (millions of particles per second). Ray tracing is slow for this purpose (up to 100 particles per second). The accuracy of the analytical expressions is comparable with ray tracing in a certain space near the optical axis

  • Název v anglickém jazyce

    Calculation of Current Density Profiles of Charged-Particle Beams

  • Popis výsledku anglicky

    A method and a program for calculation of current density profiles was developed. It simulates the propagation of a charged-particle beam in an optical system. Since it requires data of positions of a high number (billions - 109) of particles on a giventarget, analytical expressions for paraxial position and aberrations are used for calculation, that are very fast to evaluate (millions of particles per second). Ray tracing is slow for this purpose (up to 100 particles per second). The accuracy of the analytical expressions is comparable with ray tracing in a certain space near the optical axis

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/KSK2067107" target="_blank" >KSK2067107: Aplikovaná fyzika jako základ technických věd</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2004

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of the 9th International Seminar Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation

  • ISBN

    80-239-3246-2

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    53-54

  • Název nakladatele

    Institute of Scientific Instruments AS CR

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Skalský Dvůr

  • Datum konání akce

    12. 7. 2004

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku