Použití rastrovacího nízkoenergiového elektronového mikroskopu ke studiu mikrostruktury kompozitního materiálu se slitinovou matricí Al2O3/Al-Mg-Si

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00109066" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00109066 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Scanning Low Energy Electron Microscope Applications for Microstructure of Al2O3/Al-Mg-Si Alloy Matrix Composite Material

Popis výsledku v původním jazyce

Formation of reacted products on the interface between Al2O3 particles and the Aluminum matrix in the Al2O3/Al-Mg-Si alloy matrix composite affect the hardness properties of the material. This product was identified as MgAl2O4 (spinel), which was grown on the Al2O3 particle during the cast. The presence of spinels causes the Aging Hardening curves of the composite materials showing the maximum Aging Hardness lower than that of the unreinforced matrix alloy. The Scanning Low Energy Electron Microscope system revealed that the spinel in this composite material has a triangular facet on the Al2O3 particle

Název v anglickém jazyce

Scanning Low Energy Electron Microscope Applications for Microstructure of Al2O3/Al-Mg-Si Alloy Matrix Composite Material

Popis výsledku anglicky

Formation of reacted products on the interface between Al2O3 particles and the Aluminum matrix in the Al2O3/Al-Mg-Si alloy matrix composite affect the hardness properties of the material. This product was identified as MgAl2O4 (spinel), which was grown on the Al2O3 particle during the cast. The presence of spinels causes the Aging Hardening curves of the composite materials showing the maximum Aging Hardness lower than that of the unreinforced matrix alloy. The Scanning Low Energy Electron Microscope system revealed that the spinel in this composite material has a triangular facet on the Al2O3 particle

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA202%2F04%2F0281" target="_blank" >GA202/04/0281: Mapování lokální hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů při vysokém prostorovém rozlišení</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 8th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy

ISBN

4-9902106-0-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

779-780

Název nakladatele

8APEM Publication Committee

Místo vydání

Kanazawa

Místo konání akce

Kanazawa

Datum konání akce

7. 6. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—