Vliv velikosti částice na její chování v blízkosti dielektrického rozhraní

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00109083" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00109083 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
How the size of a particle approaching dielectric interface influences its behavior
Popis výsledku v původním jazyce
The influence of size of the trapped object on its position near the dielectric interface is studied experimentally. The trapping beam is reflected on a surface and creates weak standing wave component in resulting field distribution. This component causes unwanted jumps of the trapped particle, when the beam waist moves axially in the surface vicinity. Particles of different sizes are more and less influenced by the standing wave, respectively. The position of the trapped particle is measured with quadrant photodiode and photomultiplier tube at the same time
Název v anglickém jazyce
How the size of a particle approaching dielectric interface influences its behavior
Popis výsledku anglicky
The influence of size of the trapped object on its position near the dielectric interface is studied experimentally. The trapping beam is reflected on a surface and creates weak standing wave component in resulting field distribution. This component causes unwanted jumps of the trapped particle, when the beam waist moves axially in the surface vicinity. Particles of different sizes are more and less influenced by the standing wave, respectively. The position of the trapped particle is measured with quadrant photodiode and photomultiplier tube at the same time

Projekt
<a href="/cs/project/IAA1065203" target="_blank" >IAA1065203: Využití kombinace laserových mikrosvazkových a cytometrických technik ke studiu struktury a dynamiky lidského genomu</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2004
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Proceedings of SPIE - The International society for optical engineering. Optical Trapping and Optical Micromanipulation (Vol. 5514)
ISBN
0-8194-5452-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
636-642
Název nakladatele
SPIE
Místo vydání
Denver
Místo konání akce
Denver
Datum konání akce
2. 8. 2004
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)