Režim rastrovací nízkoenergiové elektronové mikroskopie (SLEEM) v REM

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F06%3A00044288" target="_blank" >RIV/68081731:_____/06:00044288 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM
Popis výsledku v původním jazyce
The scanning low energy electron microscopy (SLEEM) mode, employing the cathode lens for retardation of the primary beam just in front of the sample surface, is presented together with results of selected demonstration experiments.
Název v anglickém jazyce
The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM
Popis výsledku anglicky
The scanning low energy electron microscopy (SLEEM) mode, employing the cathode lens for retardation of the primary beam just in front of the sample surface, is presented together with results of selected demonstration experiments.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/GA202%2F04%2F0281" target="_blank" >GA202/04/0281: Mapování lokální hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů při vysokém prostorovém rozlišení</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Popis výsledku