Detekce signálních elektronů v rastrovací elektronové mikroskopii

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F06%3A00049031" target="_blank" >RIV/68081731:_____/06:00049031 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Detekce signálních elektronů v rastrovací elektronové mikroskopii
Popis výsledku v původním jazyce
Přehledový článek shrnuje výsledky, které byly dosaženy v oblasti detekce signálních elektronů, zejména sekundárních a zpětně odražených elektronů, v rastrovacích elektronových mikroskopech střední i vyšší třídy a v mikroskopech s nízkou energií primárního elektronového svazku při jejich dopadu na vzorek. Podává charakteristiku obrazu tvořeného těmito elektrony a soustřeďuje se především na scintilačně-fotonásobičové systémy.
Název v anglickém jazyce
Detection of Signal Electrons in Scanning Electron Microscopy
Popis výsledku anglicky
Review paper summarizes the results obtained in the field of detection of signal electrons, in particular secondary and backscattered electrons, in scanning electron microscopes of medium and high performance and in microscopes with low primary beam energy on their arrival on the sample. It gives characteristics of the image made by these electrons and concentrates mostly on scintillation-photomultiplier types.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F05%2F0886" target="_blank" >GA102/05/0886: Výzkum detekčních systémů pravých sekundárních elektronů v nově koncipovaném environmentálním rastrovacím elektronovém mikroskopu</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)