Kontrast dopantu jako interpretační problém při zobrazování elektrony
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00082251" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00082251 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Dopant Contrast in Semiconductors as Interpretation Challenge at Imaging by Electrons
Popis výsledku v původním jazyce
Mechanisms responsible for the contrast between differently doped areas in semiconductors, which is observed in electron micrographs, is discussed as regards the key factors determining the sign and magnitude of the contrast. Experimental data obtained by means of the scanning electron microscope (SEM), scanning low energy electron microscope and photoelectron emission microscope are reviewed together with hints following from them for compilation of a model of the contrast mechanism.
Název v anglickém jazyce
Dopant Contrast in Semiconductors as Interpretation Challenge at Imaging by Electrons
Popis výsledku anglicky
Mechanisms responsible for the contrast between differently doped areas in semiconductors, which is observed in electron micrographs, is discussed as regards the key factors determining the sign and magnitude of the contrast. Experimental data obtained by means of the scanning electron microscope (SEM), scanning low energy electron microscope and photoelectron emission microscope are reviewed together with hints following from them for compilation of a model of the contrast mechanism.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA202%2F04%2F0281" target="_blank" >GA202/04/0281: Mapování lokální hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů při vysokém prostorovém rozlišení</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Materials Transactions
ISSN
1345-9678
e-ISSN
—
Svazek periodika
48
Číslo periodika v rámci svazku
5
Stát vydavatele periodika
JP - Japonsko
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
936-939
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—