CAD v elektronové optice

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00092382" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00092382 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
CAD in Electron Optics
Popis výsledku v původním jazyce
Invited talk on 8th Multinational congress on microscopy in the session Electron optics and optical elements. It discusses the themes of reduced interest in papers from electron optics on microscopy conferences and the progress in computational programs(such as EOD from ISI AS CR), in particular in accurate electron ray tracing in electromagnetic fields and in user interfaces.
Název v anglickém jazyce
CAD in Electron Optics
Popis výsledku anglicky
Invited talk on 8th Multinational congress on microscopy in the session Electron optics and optical elements. It discusses the themes of reduced interest in papers from electron optics on microscopy conferences and the progress in computational programs(such as EOD from ISI AS CR), in particular in accurate electron ray tracing in electromagnetic fields and in user interfaces.

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy
ISBN
978-80-239-9397-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
19-20
Název nakladatele
Czechoslovak Microscopy Society
Místo vydání
Prague
Místo konání akce
Prague
Datum konání akce
17. 6. 2007
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)