Microstructure of the ultra-fine grained Cu by UHV SLEEM

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F09%3A00335272" target="_blank" >RIV/68081731:_____/09:00335272 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Microstructure of the ultra-fine grained Cu by UHV SLEEM

Popis výsledku v původním jazyce

Study of materials with ultra-fine structure belongs nowadays to fronted areas of research of the material engineering. Ultra-fine grained (UFG) materials are defined as polycrystals with very small grains of average grain sizes below 1 micrometer. Thesematerials are very attractive for many industrial applications (including aerospace, automotive, biomaterials, chemical sensors, construction, electronics, metal forming, etc.) because of their interesting mechanical and physical properties surpassing those of common materials. The superior mechanical properties include ultra high strength and superplasticity.

Název v anglickém jazyce

Microstructure of the ultra-fine grained Cu by UHV SLEEM

Popis výsledku anglicky

Study of materials with ultra-fine structure belongs nowadays to fronted areas of research of the material engineering. Ultra-fine grained (UFG) materials are defined as polycrystals with very small grains of average grain sizes below 1 micrometer. Thesematerials are very attractive for many industrial applications (including aerospace, automotive, biomaterials, chemical sensors, construction, electronics, metal forming, etc.) because of their interesting mechanical and physical properties surpassing those of common materials. The superior mechanical properties include ultra high strength and superplasticity.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/OE08012" target="_blank" >OE08012: Kontrast a detekce v rastrovací elektronové mikroskopii (Contrast and detection in scanning electron microscopy)</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

MC 2009 - Microscopy Conference: First Joint Meeting of Dreiländertagung and Multinational Conference on Microscopy

ISBN

978-3-85125-062-6

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

—

Název nakladatele

Verlag der Technischen Universität

Místo vydání

Graz

Místo konání akce

Graz

Datum konání akce

30. 8. 2009

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—