Orientation of Grains in the Al-Mg-Si-Mn Alloy by Scanning Low Energy Electron Microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F09%3A00335297" target="_blank" >RIV/68081731:_____/09:00335297 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Orientation of Grains in the Al-Mg-Si-Mn Alloy by Scanning Low Energy Electron Microscopy

Popis výsledku v původním jazyce

Electron Backscatter Diffraction (EBSD) is a technique allowing the crystallographic infomiation to be obtained from samples in the scanning electron microscope (SEM). The main disadvantages of this method include the specimen tilt by 70°, requiring to operate at large working distances and hence with reduced lateral resolution, and a long acquisition time needed to obtain the full infomnation about grain orientations. However, the crystal orientation can be recognized upon energy dependence of the electron reflectance in the very low energy range. Information can be acquired at a high lateral resolution, high contrast and short acquisition time in a dedicated SEM equipped by the cathode lens.

Název v anglickém jazyce

Orientation of Grains in the Al-Mg-Si-Mn Alloy by Scanning Low Energy Electron Microscopy

Popis výsledku anglicky

Electron Backscatter Diffraction (EBSD) is a technique allowing the crystallographic infomiation to be obtained from samples in the scanning electron microscope (SEM). The main disadvantages of this method include the specimen tilt by 70°, requiring to operate at large working distances and hence with reduced lateral resolution, and a long acquisition time needed to obtain the full infomnation about grain orientations. However, the crystal orientation can be recognized upon energy dependence of the electron reflectance in the very low energy range. Information can be acquired at a high lateral resolution, high contrast and short acquisition time in a dedicated SEM equipped by the cathode lens.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS?09)

ISBN

978-80-254-4535-8

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

1

Strana od-do

—

Název nakladatele

ISI AS CR

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

10. 8. 2009

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—