Very Low Energy Scanning Electron Microscopy of Free-Standing Ultrathin Films
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F10%3A00340747" target="_blank" >RIV/68081731:_____/10:00340747 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Very Low Energy Scanning Electron Microscopy of Free-Standing Ultrathin Films
Popis výsledku v původním jazyce
Instrument and methodology is presented for very low energy scanning transmission electron microscopy. The detector system provides simultaneous acquisitions of total reflected and transmitted electron fluxes. Introductory experiments incorporated examination of ultrathin foils of gold, carbon and graphene flakes. Extremely sensitive thickness contrast obtained at units of eV is demonstrated. The phenomenon of electron transmissivity apparently exceeding 100% owing to the contribution of secondary electrons released near to the exit surface is described and discussed.
Název v anglickém jazyce
Very Low Energy Scanning Electron Microscopy of Free-Standing Ultrathin Films
Popis výsledku anglicky
Instrument and methodology is presented for very low energy scanning transmission electron microscopy. The detector system provides simultaneous acquisitions of total reflected and transmitted electron fluxes. Introductory experiments incorporated examination of ultrathin foils of gold, carbon and graphene flakes. Extremely sensitive thickness contrast obtained at units of eV is demonstrated. The phenomenon of electron transmissivity apparently exceeding 100% owing to the contribution of secondary electrons released near to the exit surface is described and discussed.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/IAA100650902" target="_blank" >IAA100650902: Rastrovací prozařovací elektronová mikroskopie s velmi pomalými elektrony</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Materials Transactions
ISSN
1345-9678
e-ISSN
—
Svazek periodika
51
Číslo periodika v rámci svazku
2
Stát vydavatele periodika
JP - Japonsko
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—