Examination of Very Thin Free-standing Films with Slow Electrons
Popis výsledku
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Examination of Very Thin Free-standing Films with Slow Electrons
Popis výsledku v původním jazyce
Free-standing films of thicknesses in units of nm have been examined using both reflected and transmitted electrons in the scanning low energy electron microscope.
Název v anglickém jazyce
Examination of Very Thin Free-standing Films with Slow Electrons
Popis výsledku anglicky
Free-standing films of thicknesses in units of nm have been examined using both reflected and transmitted electrons in the scanning low energy electron microscope.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of 5th Japan-China-Norway Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology
ISBN
978-4-9903248-2-7
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Název nakladatele
University of Toyama
Místo vydání
Toyama
Místo konání akce
Toyama
Datum konání akce
12. 9. 2010
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—
Druh výsledku
D - Stať ve sborníku
CEP
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Rok uplatnění
2010