Scanning Low Energy Electron Microscopy - A PowerfuleTool for Materials Science

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F10%3A00352510" target="_blank" >RIV/68081731:_____/10:00352510 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Scanning Low Energy Electron Microscopy - A PowerfuleTool for Materials Science
Popis výsledku v původním jazyce
Progress in materials research is inseparably connected to the development of new analytical methods, which make it possible to examine. The aging hardness the structures of materials at high spatial resolution and sensitivity. A very promising techniquefor study the microstructure of advanced materials is the scanning low energy electron microscopy (SLEEM).
Název v anglickém jazyce
Scanning Low Energy Electron Microscopy - A PowerfuleTool for Materials Science
Popis výsledku anglicky
Progress in materials research is inseparably connected to the development of new analytical methods, which make it possible to examine. The aging hardness the structures of materials at high spatial resolution and sensitivity. A very promising techniquefor study the microstructure of advanced materials is the scanning low energy electron microscopy (SLEEM).

Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Proceedings of 5th Japan-China-Norway Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology
ISBN
978-4-9903248-2-7
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
—
Název nakladatele
University of Toyama
Místo vydání
Toyama
Místo konání akce
Toyama
Datum konání akce
12. 9. 2010
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)