Accurate and Easy-to-use Electron Optical Design Program for Microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F10%3A00353047" target="_blank" >RIV/68081731:_____/10:00353047 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Accurate and Easy-to-use Electron Optical Design Program for Microscopy

Popis výsledku v původním jazyce

Finite Element Method (FEM) has become the universal method for computing 2D potentials in rotationally symmetric electrostatic and saturated magnetic lenses, electrostatic multipoles and magnetic deflection coils inside lenses. For all these elements optimum methods for computing the first order FEM equations were derived, fast solution algorithms implemented and an option for accuracy evaluation of lens field added. Determination of the optical properties is complemented with high accuracy ray tracingwhich allows extracting the aberration coefficients of up to the 5th order from the ray-traced results.

Název v anglickém jazyce

Accurate and Easy-to-use Electron Optical Design Program for Microscopy

Popis výsledku anglicky

Finite Element Method (FEM) has become the universal method for computing 2D potentials in rotationally symmetric electrostatic and saturated magnetic lenses, electrostatic multipoles and magnetic deflection coils inside lenses. For all these elements optimum methods for computing the first order FEM equations were derived, fast solution algorithms implemented and an option for accuracy evaluation of lens field added. Determination of the optical properties is complemented with high accuracy ray tracingwhich allows extracting the aberration coefficients of up to the 5th order from the ray-traced results.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/IAA100650805" target="_blank" >IAA100650805: Vady seřízení elektronově optických systémů</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress

ISBN

978-85-63273-06-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

—

Název nakladatele

Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise

Místo vydání

Rio de Janeiro

Místo konání akce

Rio de Janeiro

Datum konání akce

19. 9. 2010

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—