Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F11%3A00367893" target="_blank" >RIV/68081731:_____/11:00367893 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.465.338" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.465.338</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.465.338" target="_blank" >10.4028/www.scientific.net/KEM.465.338</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy
Popis výsledku v původním jazyce
The use of the scanning low energy electron microscopy (SLEEM) has been slowly making its way into the field of materials science, hampered not by limitations in the technique but rather by relative scarcity of these instruments in research institutes and laboratories. This paper reports the results obtained from an investigation of the microstructure of ultra fine-grained (UFG) copper fabricated using equal channel angular pressing (ECAP) method, namely in the as-pressed state and after annealing. SLEEM is very sensitive to the perfection of crystal lattice and using SLEEM, local strain can be effectively imaged.
Název v anglickém jazyce
Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy
Popis výsledku anglicky
The use of the scanning low energy electron microscopy (SLEEM) has been slowly making its way into the field of materials science, hampered not by limitations in the technique but rather by relative scarcity of these instruments in research institutes and laboratories. This paper reports the results obtained from an investigation of the microstructure of ultra fine-grained (UFG) copper fabricated using equal channel angular pressing (ECAP) method, namely in the as-pressed state and after annealing. SLEEM is very sensitive to the perfection of crystal lattice and using SLEEM, local strain can be effectively imaged.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI (Key Engineering Materials Vol. 465)
ISBN
978-3-03785-006-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
338-341
Název nakladatele
Trans Tech Publications
Místo vydání
Zurich
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
28. 6. 2010
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000291704700077