Characterization of the local crystallinity via reflectance of very slow electrons

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00384097" target="_blank" >RIV/68081731:_____/12:00384097 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4729879" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.4729879</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4729879" target="_blank" >10.1063/1.4729879</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Characterization of the local crystallinity via reflectance of very slow electrons

Popis výsledku v původním jazyce

The reflectance of very slow electrons from solids and its electron energy dependence are shown as characteristic for the crystal system and its spatial orientation so they can serve, e. g., to fingerprinting the orientation of grains in polycrystals. Measurements on single crystals and polycrystals are validated via electron backscatter diffraction analyses. Sensitivity of the method to fine details of crystallinity is demonstrated.

Název v anglickém jazyce

Characterization of the local crystallinity via reflectance of very slow electrons

Popis výsledku anglicky

The reflectance of very slow electrons from solids and its electron energy dependence are shown as characteristic for the crystal system and its spatial orientation so they can serve, e. g., to fingerprinting the orientation of grains in polycrystals. Measurements on single crystals and polycrystals are validated via electron backscatter diffraction analyses. Sensitivity of the method to fine details of crystallinity is demonstrated.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Applied Physics Letters

ISSN

0003-6951

e-ISSN

—

Svazek periodika

100

Číslo periodika v rámci svazku

26

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

"261602:1"-"4"

Kód UT WoS článku

000305831500014

EID výsledku v databázi Scopus

—