Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Characterization of industrial materials by slow and very slow electrons

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00386393" target="_blank" >RIV/68081731:_____/12:00386393 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Characterization of industrial materials by slow and very slow electrons

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Progress in materials science and engineering is inseparably connected with excellent knowledge of the correlation between materials properties and their microstructure. In our experiment an ultra-high vacuum scaning low energy electron microscope (UHV SLEEM) of an in-house design was used to observe microstructure of specimens. The UHV SLEEM is equipped with the cathode lens (CL) assembly, which enables us to observe samples at arbitrary landing energies of primary electrons. The device provides argonion beam for in-situ cleaning of the specimen surface.

  • Název v anglickém jazyce

    Characterization of industrial materials by slow and very slow electrons

  • Popis výsledku anglicky

    Progress in materials science and engineering is inseparably connected with excellent knowledge of the correlation between materials properties and their microstructure. In our experiment an ultra-high vacuum scaning low energy electron microscope (UHV SLEEM) of an in-house design was used to observe microstructure of specimens. The UHV SLEEM is equipped with the cathode lens (CL) assembly, which enables us to observe samples at arbitrary landing energies of primary electrons. The device provides argonion beam for in-situ cleaning of the specimen surface.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation

  • ISBN

    978-80-87441-07-7

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    45-46

  • Název nakladatele

    Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Skalský dvůr

  • Datum konání akce

    25. 6. 2012

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku