Low energy Scanning Transmission Electron Microscope

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F13%3A00398026" target="_blank" >RIV/68081731:_____/13:00398026 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Low energy Scanning Transmission Electron Microscope

Popis výsledku v původním jazyce

This paper describes how to obtain high resolution in a Low Energy Scanning Transmission Electron Microscope (LESTEM) down to units of eV with a spot size of units of nm. The imaging of graphene in the stransmitted signal is shown as one application example.

Název v anglickém jazyce

Low energy Scanning Transmission Electron Microscope

Popis výsledku anglicky

This paper describes how to obtain high resolution in a Low Energy Scanning Transmission Electron Microscope (LESTEM) down to units of eV with a spot size of units of nm. The imaging of graphene in the stransmitted signal is shown as one application example.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/TE01020118" target="_blank" >TE01020118: Elektronová mikroskopie</a><br>

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Microscopy and Microanalysis

ISSN

1431-9276

e-ISSN

—

Svazek periodika

19

Číslo periodika v rámci svazku

S2

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

1236-1237

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—