Apparatus for temperature-dependent cathodoluminescence characterization of materials

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F14%3A00430353" target="_blank" >RIV/68081731:_____/14:00430353 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/25/7/075601" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/25/7/075601</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/25/7/075601" target="_blank" >10.1088/0957-0233/25/7/075601</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Apparatus for temperature-dependent cathodoluminescence characterization of materials

Popis výsledku v původním jazyce

An apparatus for characterization of temperature-dependent cathodoluminescence (CL) of solid-state materials is presented. This device excites a specimen using an electron beam and the CL emission is collected from the specimen side opposite the e-beam irradiation. The design of the temperature-controlled specimen holder that enables cooling down to 100 K and heating up to 500 K is described. The desired specimen temperature is automatically stabilized using a PID controller, which is the proportional-integral-derivative control feedback loop. Moreover, the specimen holder provides in situ e-beam current measurement during the specimen excitation. The apparatus allows the measurement of the CL intensity, the CL spectrum, or the CL intensity decay depending on the specimen temperature, or on a variety of excitation conditions, such as excitation energy, electron current (dose), or excitation duration. The apparatus abilities are demonstrated by an example of the CL measurements of the Y

Název v anglickém jazyce

Apparatus for temperature-dependent cathodoluminescence characterization of materials

Popis výsledku anglicky

An apparatus for characterization of temperature-dependent cathodoluminescence (CL) of solid-state materials is presented. This device excites a specimen using an electron beam and the CL emission is collected from the specimen side opposite the e-beam irradiation. The design of the temperature-controlled specimen holder that enables cooling down to 100 K and heating up to 500 K is described. The desired specimen temperature is automatically stabilized using a PID controller, which is the proportional-integral-derivative control feedback loop. Moreover, the specimen holder provides in situ e-beam current measurement during the specimen excitation. The apparatus allows the measurement of the CL intensity, the CL spectrum, or the CL intensity decay depending on the specimen temperature, or on a variety of excitation conditions, such as excitation energy, electron current (dose), or excitation duration. The apparatus abilities are demonstrated by an example of the CL measurements of the Y

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Measurement Science and Technology

ISSN

0957-0233

e-ISSN

—

Svazek periodika

25

Číslo periodika v rámci svazku

7

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

"075601:1"-"7"

Kód UT WoS článku

000338634700038

EID výsledku v databázi Scopus

—