Computations in Charged Particle Optics

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F14%3A00431219" target="_blank" >RIV/68081731:_____/14:00431219 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Computations in Charged Particle Optics

Popis výsledku v původním jazyce

The design of modern electron microscopes could not be possible without appropriate software tools. With the sub-nanometer resolution in SEM, and the sub-?ngström resolution in TEM, one can see that the simulations involved in designing the instruments need to be tremendously accurate. A simulation starts with the computation of the electric and magnetic fields generated by various optical elements. That is followed by determinig the paraxial properties, aberrations and accurate particle trajectories (ray tracing). The distributions of the fields are mostly detemined with the Finite Element Method (FEM), the Boundary Element Method (BEM) or the Finite Difference Method (FDM). As the field data are at the input of all the subsequent calculations, they need to be very accurate, especially in the region close to the optical axis. Current expertise includes a set of rules that need to be applied in generating a FEM or BEM mesh. Advanced field interpolation techniques are necessary for accu

Název v anglickém jazyce

Computations in Charged Particle Optics

Popis výsledku anglicky

The design of modern electron microscopes could not be possible without appropriate software tools. With the sub-nanometer resolution in SEM, and the sub-?ngström resolution in TEM, one can see that the simulations involved in designing the instruments need to be tremendously accurate. A simulation starts with the computation of the electric and magnetic fields generated by various optical elements. That is followed by determinig the paraxial properties, aberrations and accurate particle trajectories (ray tracing). The distributions of the fields are mostly detemined with the Finite Element Method (FEM), the Boundary Element Method (BEM) or the Finite Difference Method (FDM). As the field data are at the input of all the subsequent calculations, they need to be very accurate, especially in the region close to the optical axis. Current expertise includes a set of rules that need to be applied in generating a FEM or BEM mesh. Advanced field interpolation techniques are necessary for accu

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/EE.2.3.20.0103" target="_blank" >EE.2.3.20.0103: Podpora lidských zdrojů a transferu znalostí v podmínkách mezinárodní spolupráce vědeckých týmů</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Workshop of Interesting Topics of SEM and ESEM

ISBN

978-80-87441-12-1

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

23-24

Název nakladatele

Institute of Scientific Instruments AS CR, v. v. i

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Mikulov

Datum konání akce

26. 8. 2014

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—