Scanning Electron Microscopy with biased samples

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F14%3A00434071" target="_blank" >RIV/68081731:_____/14:00434071 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Scanning Electron Microscopy with biased samples
Popis výsledku v původním jazyce
The arrangement of the scanning electron microscope with the sample biased to a high negative potential is discussed from the point of view of detection of signal electrons both in reflected and transmitted modes.
Název v anglickém jazyce
Scanning Electron Microscopy with biased samples
Popis výsledku anglicky
The arrangement of the scanning electron microscope with the sample biased to a high negative potential is discussed from the point of view of detection of signal electrons both in reflected and transmitted modes.

Projekt
<a href="/cs/project/LO1212" target="_blank" >LO1212: ALISI - Centrum pokročilých diagnostických metod a technologií</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
EM2014. 15th International Conference on Electron Microscopy
ISBN
978-83-63663-48-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
76-77
Název nakladatele
Wydawnictwo Naukove Akapit
Místo vydání
Kraków
Místo konání akce
Kraków
Datum konání akce
15. 9. 2014
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)