Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Základní sestava interferometru

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F14%3A00438947" target="_blank" >RIV/68081731:_____/14:00438947 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Základní sestava interferometru

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Základní konfigurace interferometru pro průmyslová měření a pro nanometrologii byla zvolena v uspořádání pro měření odrazem od rovinného zrcadla. Je to proto, že je vhodná pro použití ve víceosých souřadnicových měřicích systémech, kam aplikovaný výzkuma vývoj interferometrických systémů koncepčně primárně směřuje. Celková základní sestava zahrnuje stabilizovaný laserový zdroj koherentního záření, řídicí elektroniku laseru, homodyní detekční systém, elektroniku zpracování signálu, jednotku pro kompenzaci vlivu indexu lomu a software.

  • Název v anglickém jazyce

    Basic interferometer setup

  • Popis výsledku anglicky

    The basic configuration of the interferometer for industrial metrology and nanometrology was chosen in a setup for measurement through reflection from a plane-mirror. It is suitable for multiaxis coordinate measuring systems where the aplied research anddevelopment of the interferometric systems leads. The overall basic setup includes stabilized laser source of a coherent radiation, control electronics of the laser, homodyne detection system, electronics for the signal processing, unit for compensationof the influence of the refractive index of air and software.

Klasifikace

  • Druh

    G<sub>funk</sub> - Funkční vzorek

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/TA02010711" target="_blank" >TA02010711: Pokročilé interferometrické systémy pro měření v nanotechnologiích</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Interní identifikační kód produktu

    APL-2014-12

  • Číselná identifikace

  • Technické parametry

    Frekvenční stabilita laseru: 10e-8, rozlišení: 0,2 nm

  • Ekonomické parametry

    Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení.

  • Kategorie aplik. výsledku dle nákladů

  • IČO vlastníka výsledku

    68081731

  • Název vlastníka

    Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.

  • Stát vlastníka

    CZ - Česká republika

  • Druh možnosti využití

    N - Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)

  • Požadavek na licenční poplatek

  • Adresa www stránky s výsledkem