Optimizing the Recognition of Surface Crystallography

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F15%3A00450814" target="_blank" >RIV/68081731:_____/15:00450814 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927615013252" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1017/S1431927615013252</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927615013252" target="_blank" >10.1017/S1431927615013252</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Optimizing the Recognition of Surface Crystallography

Popis výsledku v původním jazyce

Crystallographic information about solid samples acquired at high lateral resolution, along with information about electronic structure and properties , are crucial characteristics in the development and diagnostics of materials. In teh nanotechnology era, surface bound structures are of increasing importance and the same is true of approaches enabling the enhanced surface sensitivity of methods providing crystallographic data.

Název v anglickém jazyce

Optimizing the Recognition of Surface Crystallography

Popis výsledku anglicky

Crystallographic information about solid samples acquired at high lateral resolution, along with information about electronic structure and properties , are crucial characteristics in the development and diagnostics of materials. In teh nanotechnology era, surface bound structures are of increasing importance and the same is true of approaches enabling the enhanced surface sensitivity of methods providing crystallographic data.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/LO1212" target="_blank" >LO1212: ALISI - Centrum pokročilých diagnostických metod a technologií</a><br>

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2015

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Microscopy and Microanalysis

ISSN

1431-9276

e-ISSN

—

Svazek periodika

21

Číslo periodika v rámci svazku

S4

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

124-129

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—