Repetitive Observation of Coniferous Samples in ESEM and SEM
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F15%3A00451411" target="_blank" >RIV/68081731:_____/15:00451411 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Repetitive Observation of Coniferous Samples in ESEM and SEM
Popis výsledku v původním jazyce
Environmental scanning electron microscopy (ESEM) is well known for its ability to observe nonconductive moist or wet samples in optional conditions including the possibility for in-situ study of their dynamical changes. ESEM allows the observation of awide range of biological samples from different kinds of fully hydrated fixed cells to live animals, as well as plant samples in their native state, free of any treatment. Nevertheless, observation of wet susceptible biological samples is burdened with the low possibility for repetitive imaging of samples due to sample collapse and relatively low resolution in comparison with scanning electron microscopy (SEM).
Název v anglickém jazyce
Repetitive Observation of Coniferous Samples in ESEM and SEM
Popis výsledku anglicky
Environmental scanning electron microscopy (ESEM) is well known for its ability to observe nonconductive moist or wet samples in optional conditions including the possibility for in-situ study of their dynamical changes. ESEM allows the observation of awide range of biological samples from different kinds of fully hydrated fixed cells to live animals, as well as plant samples in their native state, free of any treatment. Nevertheless, observation of wet susceptible biological samples is burdened with the low possibility for repetitive imaging of samples due to sample collapse and relatively low resolution in comparison with scanning electron microscopy (SEM).
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Microscopy and Microanalysis
ISSN
1431-9276
e-ISSN
—
Svazek periodika
21
Číslo periodika v rámci svazku
S3
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
1695-1696
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—