Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Wave Optical Calculation of Probe Size in Low Energy Scanning Electron Microscope

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F15%3A00451582" target="_blank" >RIV/68081731:_____/15:00451582 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927615013392" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1017/S1431927615013392</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927615013392" target="_blank" >10.1017/S1431927615013392</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Wave Optical Calculation of Probe Size in Low Energy Scanning Electron Microscope

  • Popis výsledku v původním jazyce

    A wave optical calculation of the probe size of a low energy scanning electron microscope is presented. The resolution for the optimal aperture was computed and compared with results of standard approaches. The effect of deflection aberrations is also considered, and it was found to be critical for the landing energies below 5eV and fields of view larger than 100 x 100 pím2.

  • Název v anglickém jazyce

    Wave Optical Calculation of Probe Size in Low Energy Scanning Electron Microscope

  • Popis výsledku anglicky

    A wave optical calculation of the probe size of a low energy scanning electron microscope is presented. The resolution for the optimal aperture was computed and compared with results of standard approaches. The effect of deflection aberrations is also considered, and it was found to be critical for the landing energies below 5eV and fields of view larger than 100 x 100 pím2.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LO1212" target="_blank" >LO1212: ALISI - Centrum pokročilých diagnostických metod a technologií</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Microscopy and Microanalysis

  • ISSN

    1431-9276

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    21

  • Číslo periodika v rámci svazku

    S4

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    212-217

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus