Study of Dielectric Properties and Morphology of Epoxy Resin with Silicon Dioxide Microparticles and Nanoparticles
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F16%3A00465202" target="_blank" >RIV/68081731:_____/16:00465202 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927616010321" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1017/S1431927616010321</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927616010321" target="_blank" >10.1017/S1431927616010321</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Study of Dielectric Properties and Morphology of Epoxy Resin with Silicon Dioxide Microparticles and Nanoparticles
Popis výsledku v původním jazyce
It was found that better electrical properties of epoxy resin are achieved by adding of nanoparticles of silicon dioxide (SiO2). It is assumed that homogeneous distribution of particles significantly improves these electrical properties. This paper deals with the study of impact of different percentage filling of microparticles and nanoparticles on the electrical properties of epoxy resin, with their comparison and with the study of the particles microstructure and distribution by environmental scanning electron microscope.nn
Název v anglickém jazyce
Study of Dielectric Properties and Morphology of Epoxy Resin with Silicon Dioxide Microparticles and Nanoparticles
Popis výsledku anglicky
It was found that better electrical properties of epoxy resin are achieved by adding of nanoparticles of silicon dioxide (SiO2). It is assumed that homogeneous distribution of particles significantly improves these electrical properties. This paper deals with the study of impact of different percentage filling of microparticles and nanoparticles on the electrical properties of epoxy resin, with their comparison and with the study of the particles microstructure and distribution by environmental scanning electron microscope.nn
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/ED0017%2F01%2F01" target="_blank" >ED0017/01/01: APLIKACNÍ A VÝVOJOVÉ LABORATORE POKROCILÝCH MIKROTECHNOLOGIÍ A NANOTECHNOLOGIÍ</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Microscopy and Microanalysis
ISSN
1431-9276
e-ISSN
—
Svazek periodika
22
Číslo periodika v rámci svazku
S3
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
1896-1897
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—