Morphological and Production Changes in Stressed Red Yeasts Monitored Using SEM and Raman Spectroscopy

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F16%3A00465207" target="_blank" >RIV/68081731:_____/16:00465207 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927616006577" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1017/S1431927616006577</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927616006577" target="_blank" >10.1017/S1431927616006577</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Morphological and Production Changes in Stressed Red Yeasts Monitored Using SEM and Raman Spectroscopy

Popis výsledku v původním jazyce

We report on our investigations of the influence of different cultivation conditions on lipids, using scanning electron microscopy (SEM) and Raman spectroscopy techniques. Here, SEM uses electron beam to gain information about morphology of cells which reflects cells response on the applied stress.nConsequently, Raman spectroscopy was used for the determination of carotenoids and lipids present in the biomass. Thus, our study targets some factors which could lead to efficient industrial production of carotenoids and lipids in selected biotechnological production.

Název v anglickém jazyce

Morphological and Production Changes in Stressed Red Yeasts Monitored Using SEM and Raman Spectroscopy

Popis výsledku anglicky

We report on our investigations of the influence of different cultivation conditions on lipids, using scanning electron microscopy (SEM) and Raman spectroscopy techniques. Here, SEM uses electron beam to gain information about morphology of cells which reflects cells response on the applied stress.nConsequently, Raman spectroscopy was used for the determination of carotenoids and lipids present in the biomass. Thus, our study targets some factors which could lead to efficient industrial production of carotenoids and lipids in selected biotechnological production.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2016

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Microscopy and Microanalysis

ISSN

1431-9276

e-ISSN

—

Svazek periodika

22

Číslo periodika v rámci svazku

S3

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

"1146"-"1147lo1211"

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—