Secondary electron hyper spectral imaging in helios nanolab - mapping materials properties or artefacts?

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F18%3A00494374" target="_blank" >RIV/68081731:_____/18:00494374 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Secondary electron hyper spectral imaging in helios nanolab - mapping materials properties or artefacts?

Popis výsledku v původním jazyce

A link between peaks in secondary electron (SE) spectra and Electron Energy Loss Spectran(EELS) was shown decades ago. Also, materials properties (bulk modulus, band gap)ncorrelate with the bulk plasmon position in EELS, and local modulus maps in carbon fibresnhave been presented. If any features as result of plasmon decay into SE can be identified,nSE spectroscopy combined with hyperspectral imaging could transform the SEM into a toolnfor mapping materials properties with ground-breaking potential for nanotechnology. Tonbecome a reality, we first need to establish SE collection conditions spectra that represent anmaterial reliably. Second, we need to gain a better understanding of the processes involved in the SE emission processes.

Název v anglickém jazyce

Secondary electron hyper spectral imaging in helios nanolab - mapping materials properties or artefacts?

Popis výsledku anglicky

A link between peaks in secondary electron (SE) spectra and Electron Energy Loss Spectran(EELS) was shown decades ago. Also, materials properties (bulk modulus, band gap)ncorrelate with the bulk plasmon position in EELS, and local modulus maps in carbon fibresnhave been presented. If any features as result of plasmon decay into SE can be identified,nSE spectroscopy combined with hyperspectral imaging could transform the SEM into a toolnfor mapping materials properties with ground-breaking potential for nanotechnology. Tonbecome a reality, we first need to establish SE collection conditions spectra that represent anmaterial reliably. Second, we need to gain a better understanding of the processes involved in the SE emission processes.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

—

OECD FORD obor

20506 - Coating and films

Projekt

—

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2018

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar

ISBN

978-80-87441-23-7

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

68-69

Název nakladatele

Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Skalský dvůr

Datum konání akce

4. 6. 2018

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000450591400026