Using spatial light modulator for correction of wavefront reflected from optically rough surface
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F18%3A00499804" target="_blank" >RIV/68081731:_____/18:00499804 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2318705" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1117/12.2318705</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2318705" target="_blank" >10.1117/12.2318705</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Using spatial light modulator for correction of wavefront reflected from optically rough surface
Popis výsledku v původním jazyce
We present an experimental study of the method using a spatial light modulator for correction of the wavefront reflected from the optically rough surface. This method is based on the detection of the mutual phase differences between different regions of the wavefront that correspond to the constructive interference. We study the capabilities of this method from the metrological point of view for the ground glass samples characterized by several different levels of roughness. The resulting wavefront correction is tested in dependence on the measurement parameters settings and is verified by analyzing two specific patterns generated by the spatial light modulator.
Název v anglickém jazyce
Using spatial light modulator for correction of wavefront reflected from optically rough surface
Popis výsledku anglicky
We present an experimental study of the method using a spatial light modulator for correction of the wavefront reflected from the optically rough surface. This method is based on the detection of the mutual phase differences between different regions of the wavefront that correspond to the constructive interference. We study the capabilities of this method from the metrological point of view for the ground glass samples characterized by several different levels of roughness. The resulting wavefront correction is tested in dependence on the measurement parameters settings and is verified by analyzing two specific patterns generated by the spatial light modulator.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2018
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
The International Society for Optical Engineering (Proceedigs of SPIE 10834)
ISBN
978-151062297-5
ISSN
0277-786X
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
—
Název nakladatele
SPIE
Místo vydání
Bellingham
Místo konání akce
Janow Podlaski
Datum konání akce
10. 9. 2018
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000455052600045