Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Anulární apertury pro skenovací elektronový mikroskop

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F20%3A00536666" target="_blank" >RIV/68081731:_____/20:00536666 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Anulární apertury pro skenovací elektronový mikroskop

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Vědecká zpráva popisující možnosti aplikace anulárních apertur v rastrovací elektronové mikroskopii. Je diskutován jejich vliv na profil svazku a rozlišení. Ukázali jsme, že se výrazně odlišuje hodnota rozlišení pro Rayleigho kritériun a pro standardně používané rozlišení dané průměrem oblasti proudového profilu, která obsahuje 50% proudu. Pomoci simulace obrazu jsme zjistily, že v případě anulárního osvětlení jsou patrné větší detaily obrazu, ale výrazně se zvýší šum v obraze. Simulace obrazu byly použity jako vstup pro algoritmus strojového učení, který umožňuje redukci šumu na úroveň kruhových clon za současného zachování jemnějších detailů, které poskytuje anulární osvětlení.

  • Název v anglickém jazyce

    Annular aperture for Scanning electron microscope

  • Popis výsledku anglicky

    The research report describes the application of the annular apertures in scanning electron microscopy. We studied the effect of the annular illumination on current beam density profiles and the system's resolution. We showed that the value of resolution differs for the Rayleigh criterion and 50% fraction current criterion. Using image simulation, we find out that annular illumination provides more details of the image, but noise increases. We used the image simulation results as input for the denoising algorithm based on the machine learning approach.

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/TN01000008" target="_blank" >TN01000008: Centrum elektronové a fotonové optiky</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2020

  • Kód důvěrnosti údajů

    C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.