SMV-2022-39: Návrh, simulace a verifikace elektronově optických systémů

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F22%3A00565923" target="_blank" >RIV/68081731:_____/22:00565923 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
SMV-2022-39: Návrh, simulace a verifikace elektronově optických systémů
Popis výsledku v původním jazyce
V rámci smluvního výzkum byl navržený systém pro detekci sekundárních elektronů v multibeam skenovacím elektronovém mikroskopu. Dále jsme pracovali na integraci a testech korektoru sférické aberace, který využívá diskontinuity elektrostatického pole na tenké grafénové membráně.
Název v anglickém jazyce
SMV-2022-39: Electron optical systems design, simulations, and verification
Popis výsledku anglicky
The contractual research covered design of detection system of secondary electrons for the multibeam scanning electron microscope. We also worked on the integration and testing of the graphene foil lens corrector of the spherical aberration.

Rok uplatnění
2022
Kód důvěrnosti údajů
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Podobné výsledky(10)