Exploring the Dielectric Model in the Limit of Low-Energy Electrons Interacting With Graphene
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F25%3A00599077" target="_blank" >RIV/68081731:_____/25:00599077 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://analyticalsciencejournals.onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/sia.7359" target="_blank" >https://analyticalsciencejournals.onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/sia.7359</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1002/sia.7359" target="_blank" >10.1002/sia.7359</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Exploring the Dielectric Model in the Limit of Low-Energy Electrons Interacting With Graphene
Popis výsledku v původním jazyce
In this work, we present calculations of energy loss spectra corresponding to slow electrons (100 1000 eV) interacting with a graphene monolayer. We use a dielectric two-dimensional model for the conductivity developed for more energetic electrons (>50 keV) and explore its applicability in the present range of energies. The studied configuration is comparable with energy loss spectroscopy experiments implemented in a scanning low-energy electron microscope equipped with a time-of-flight device. We analyze both theoretical and experimental spectra in order to understand the structures observed in the latter and to elucidate the processes involved. The calculated spectra reproduce qualitatively the positions of the pi and pi + sigma plasmon peaks.
Název v anglickém jazyce
Exploring the Dielectric Model in the Limit of Low-Energy Electrons Interacting With Graphene
Popis výsledku anglicky
In this work, we present calculations of energy loss spectra corresponding to slow electrons (100 1000 eV) interacting with a graphene monolayer. We use a dielectric two-dimensional model for the conductivity developed for more energetic electrons (>50 keV) and explore its applicability in the present range of energies. The studied configuration is comparable with energy loss spectroscopy experiments implemented in a scanning low-energy electron microscope equipped with a time-of-flight device. We analyze both theoretical and experimental spectra in order to understand the structures observed in the latter and to elucidate the processes involved. The calculated spectra reproduce qualitatively the positions of the pi and pi + sigma plasmon peaks.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA22-34286S" target="_blank" >GA22-34286S: Zkoumání rozptylových jevů elektronů ve dvourozměrných krystalických materiálech při velmi nízkých energiích</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2025
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Surface and Interface Analysis
ISSN
0142-2421
e-ISSN
1096-9918
Svazek periodika
57
Číslo periodika v rámci svazku
1
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
42-47
Kód UT WoS článku
001321754800001
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85205041617