Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Držák TEM sítěk

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F25%3A00644844" target="_blank" >RIV/68081731:_____/25:00644844 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Držák TEM sítěk

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Funkčním vzorkem je specifický držák vzorků navržený pro techniku „AFM in SEM“ (kombinace rastrovacího elektronového mikroskopu a mikroskopu atomárních sil – LiteScope™ od firmy Nenovision). Držák řeší problematiku stabilního uchycení a zkoumání vzorků připravených na standardních TEM mřížkách v prostředí rastrovacího elektronového mikroskopu (SEM) při současném měření AFM. Konstrukce vychází ze SEM stubu upraveného do specifického tvaru, který využívá safírový disk jako podložní materiál pro TEM mřížky. Toto řešení zajišťuje vysokou čistotu pozadí a minimalizuje křížové kontaminace. Držák je vybaven mechanismem s přítlačným pružným elementem, který lze snadno nadzvednout pomocí otočného excentrického nástroje umístěného v drážce stubu. Tento způsob fixace umožňuje bezpečnou výměnu mřížek a je klíčové pro korelativní analýzu, kdy je vzorek přenášen mezi různými analytickými technikami bez rizika mechanického poškození nebo znečištění.

  • Název v anglickém jazyce

    TEM grid holder

  • Popis výsledku anglicky

    The functional sample is a specialized sample holder designed for the “AFM in SEM” technique (a combination of a scanning electron microscope and an atomic force microscope – LiteScope™ by NenoVision). The holder addresses the challenges of stable mounting and characterization of samples prepared on standard TEM grids within a scanning electron microscope (SEM) environment while simultaneously performing AFM measurements. The design is based on a custom-shaped SEM stub utilizing a sapphire disk as the supporting substrate for the TEM grids. This solution ensures high background purity and minimizes cross-contamination. The holder features a mechanism with an elastic clamping element that can be easily lifted using a rotating eccentric tool positioned in a groove of the stub. This fixation method enables safe grid replacement and is essential for correlative analysis, where the sample is transferred between different analytical techniques without the risk of mechanical damage or contamination.

Klasifikace

  • Druh

    G<sub>funk</sub> - Funkční vzorek

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/TN02000020" target="_blank" >TN02000020: Centrum pokročilé elektronové a fotonové optiky</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2025

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Interní identifikační kód produktu

    APL-2025-25

  • Číselná identifikace

    TN02000020/008-V08

  • Technické parametry

    Funkční vzorek byl vyroben na základě ověření vlastností. Technické řešení představuje modifikovaný mikroskopický držák (stub) standardních rozměrů, upravený pro současné uchycení dvou mřížek používaných pro transmisní elektronovou mikroskopii (TEM). Důležitým prvkem konstrukce je použití podložního disku ze safírového skla, na kterém jsou mřížky umístěny. Safír byl zvolen pro svou chemickou odolnost a možnost opakovaného precizního vyčištění, což eliminuje křížovou kontaminaci vzorku a umožňuje následnou analýzu v dalších přístrojích. Fixace obou mřížek je zajištěna speciálně tvarovaným přítlačným pružným elementem. Pro bezpečnou manipulaci, umístění a odebrání TEM mřížek byl navržen mechanismus uvolňování přítlačného elementu: do drážky procházejícího tělem stubu se vkládá excentrický nástroj (válcová tyč se seříznutou hranou). Pouhým pootočením tohoto nástroje dojde k nadzvednutí přítlačného pružného elementu, což umožní snadné a bezpečné vyjmutí křehké TEM mřížky bez rizika jejího mechanického poškození pinzetou.

  • Ekonomické parametry

    Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Vladislav Krzyžánek, Ph.D., krzyzanek@isibrno.cz.

  • Kategorie aplik. výsledku dle nákladů

  • IČO vlastníka výsledku

    68081731

  • Název vlastníka

    Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. - NenoVision s.r.o.

  • Stát vlastníka

    CZ - Česká republika

  • Druh možnosti využití

    V - Výsledek je využíván vlastníkem

  • Požadavek na licenční poplatek

  • Adresa www stránky s výsledkem