Strategies for low- and very-low-energy SEM.
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F99%3A12990037" target="_blank" >RIV/68081731:_____/99:12990037 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Strategies for low- and very-low-energy SEM.
Popis výsledku v původním jazyce
Annotation not available
Název v anglickém jazyce
Strategies for low- and very-low-energy SEM.
Popis výsledku anglicky
Annotation not available
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
1999
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Electron Microscopy
ISSN
0022-0744
e-ISSN
—
Svazek periodika
48
Číslo periodika v rámci svazku
3
Stát vydavatele periodika
JP - Japonsko
Počet stran výsledku
15
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—