Optical properties of amorphous and microcrystalline silicon layers.
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F01%3A02010316" target="_blank" >RIV/68378271:_____/01:02010316 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Optical properties of amorphous and microcrystalline silicon layers.
Popis výsledku v původním jazyce
With the help of optical spectroscopy we can measure(calculate) the optical constants of amorphous silicon (and similarly produced nano/microcrystalline Si).
Název v anglickém jazyce
Optical properties of amorphous and microcrystalline silicon layers.
Popis výsledku anglicky
With the help of optical spectroscopy we can measure(calculate) the optical constants of amorphous silicon (and similarly produced nano/microcrystalline Si).
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA202%2F99%2F0403" target="_blank" >GA202/99/0403: CVD diamantové vrstvy: studium dopování a defektů</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Properties and Applications of Amourphous Materials.
ISBN
0-7923-6811-8
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
32
Strana od-do
401-432
Název nakladatele
Kluwer Academic publishers
Místo vydání
Dordrecht
Místo konání akce
Seč [CZ]
Datum konání akce
25. 6. 2000
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—