Ellipsometric investigations of the refractive index depth profile in PZT thin films.
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F01%3A02010392" target="_blank" >RIV/68378271:_____/01:02010392 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68407700:21340/01:04070314
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Ellipsometric investigations of the refractive index depth profile in PZT thin films.
Popis výsledku v původním jazyce
Optical investigations of self-polarized PbZr 0.235Ti 0.765O 3 films deposited onto Si/SiO 2/adhesion layer/(111) Pt substrate by RF sputtering are presented in this work. Measurements were performed with a spectral ellipsometer working in rotating analyzer mode.
Název v anglickém jazyce
Ellipsometric investigations of the refractive index depth profile in PZT thin films.
Popis výsledku anglicky
Optical investigations of self-polarized PbZr 0.235Ti 0.765O 3 films deposited onto Si/SiO 2/adhesion layer/(111) Pt substrate by RF sputtering are presented in this work. Measurements were performed with a spectral ellipsometer working in rotating analyzer mode.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Physica Status Solidi. A
ISSN
0031-8965
e-ISSN
—
Svazek periodika
188
Číslo periodika v rámci svazku
4
Stát vydavatele periodika
DE - Spolková republika Německo
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
1549-1552
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—