Role of grains in protocrystalline silicon layers grown at very low substrate temperatures and studied by atomic force microscopy.

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F02%3A02020335" target="_blank" >RIV/68378271:_____/02:02020335 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Role of grains in protocrystalline silicon layers grown at very low substrate temperatures and studied by atomic force microscopy.

Popis výsledku v původním jazyce

Role of the sample thickness and silane dilution on the structure and electronic properties of protocrystalline silicon thin films deposited at very low substrate temperatures was investigated.

Název v anglickém jazyce

Role of grains in protocrystalline silicon layers grown at very low substrate temperatures and studied by atomic force microscopy.

Popis výsledku anglicky

Role of the sample thickness and silane dilution on the structure and electronic properties of protocrystalline silicon thin films deposited at very low substrate temperatures was investigated.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2002

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Non-Crystalline Solids

ISSN

0022-3093

e-ISSN

—

Svazek periodika

299-302

Číslo periodika v rámci svazku

N/A

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

767-771

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—