Ablace PMMA indukovaná nano-, piko- a femtosekundovými impulzy XUV laserů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F05%3A00025721" target="_blank" >RIV/68378271:_____/05:00025721 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216208:11320/05:00005501

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

XUV-laser induced ablation of PMMA with nano-, pico-, and femtosecond pulses

Popis výsledku v původním jazyce

For conventional wavelength (UV-vis-IR) lasers delivering radiation energy to the surface of materials, ablation thresholds, etch (ablation) rates, and the quality of ablated structures often differ dramatically between short (typically nanosecond) and ultrashort (typically femtosecond) pulses. Various very short-wavelength (?<100 nm) lasers, emitting pulses with durations ranging from ~ 10 fs to ~1 ns, have recently been placed into routine operation, this has facilitated the investigation of how ablation characteristics depend on the pulse duration in the XUV spectral region

Název v anglickém jazyce

XUV-laser induced ablation of PMMA with nano-, pico-, and femtosecond pulses

Popis výsledku anglicky

For conventional wavelength (UV-vis-IR) lasers delivering radiation energy to the surface of materials, ablation thresholds, etch (ablation) rates, and the quality of ablated structures often differ dramatically between short (typically nanosecond) and ultrashort (typically femtosecond) pulses. Various very short-wavelength (?<100 nm) lasers, emitting pulses with durations ranging from ~ 10 fs to ~1 ns, have recently been placed into routine operation, this has facilitated the investigation of how ablation characteristics depend on the pulse duration in the XUV spectral region

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena

ISSN

0368-2048

e-ISSN

—

Svazek periodika

144-147

Číslo periodika v rámci svazku

-

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

929-932

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—