Trvale nabité mikroskopické oblasti v tenko-vrstvém amorfním křemíku pro řízený záchyt koloidních roztoků

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F05%3A00030592" target="_blank" >RIV/68378271:_____/05:00030592 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Persistent microscopic charge patterns in amorphous silicon thin films for guided assembly of colloids

Popis výsledku v původním jazyce

Persisten microscopic charge patterns are written on hydrogenated amorphous silicon thin films (a-Si:H) using ambient atomic force microscopy (AFM). The stored charge is characterized as a function of time by Kelvin force microscopy

Název v anglickém jazyce

Persistent microscopic charge patterns in amorphous silicon thin films for guided assembly of colloids

Popis výsledku anglicky

Persisten microscopic charge patterns are written on hydrogenated amorphous silicon thin films (a-Si:H) using ambient atomic force microscopy (AFM). The stored charge is characterized as a function of time by Kelvin force microscopy

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Non-Crystalline Solids

ISSN

0022-3093

e-ISSN

—

Svazek periodika

351

Číslo periodika v rámci svazku

-

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

3127-3131

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—