Vnitřní struktura hydrogenovaných křemíkových vrstev se smíšenou fází připravených při 39 st. Celsia
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F06%3A00041137" target="_blank" >RIV/68378271:_____/06:00041137 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Internal structure of mixed phase hydrogenated silicon thin films made at 39 degrees
Popis výsledku v původním jazyce
A combined cross-sectional transmission electron microscope (XTEM) and atomic force microscope (AFM) study of thin silicon films deposited at 39 degrees shows isolated conically shaped crystalline conglomerates embedded in an amorphous phase with columnar structure.
Název v anglickém jazyce
Internal structure of mixed phase hydrogenated silicon thin films made at 39 degrees
Popis výsledku anglicky
A combined cross-sectional transmission electron microscope (XTEM) and atomic force microscope (AFM) study of thin silicon films deposited at 39 degrees shows isolated conically shaped crystalline conglomerates embedded in an amorphous phase with columnar structure.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Applied Physics Letters
ISSN
0003-6951
e-ISSN
—
Svazek periodika
89
Číslo periodika v rámci svazku
-
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
3
Strana od-do
"051922/1"-"051922/3"
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—