Měření drsnosti povrchu křemíkových ingotů po squarování

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F06%3A00079494" target="_blank" >RIV/68378271:_____/06:00079494 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/61989592:15310/06:00003274
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Roughness measurement of silicon ingot surfaces after squaring with SQM 2800.0 THEMIS machine
Popis výsledku v původním jazyce
Surface topography has great importance in specifying quality of a surface. A significant proportion of component failure starts at the surface due to either an isolated manufacturing discontinuity or gradual deterioration of the surface quality. The most important parameter describing surface integrity is surface roughness. In the manufacturing industry, surface must be within certain limits of roughness.
Název v anglickém jazyce
Roughness measurement of silicon ingot surfaces after squaring with SQM 2800.0 THEMIS machine
Popis výsledku anglicky
Surface topography has great importance in specifying quality of a surface. A significant proportion of component failure starts at the surface due to either an isolated manufacturing discontinuity or gradual deterioration of the surface quality. The most important parameter describing surface integrity is surface roughness. In the manufacturing industry, surface must be within certain limits of roughness.

Projekt
<a href="/cs/project/1M06002" target="_blank" >1M06002: Optické struktury, detekční systémy a související technologie pro nízkofotonové aplikace</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)