X-UV inteferenční mikroskopie: nástroj pro studium poškozování optických povrchů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F06%3A00082769" target="_blank" >RIV/68378271:_____/06:00082769 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

X-UV interferential microscopy: a tool for the study of the spoiling of optical surfaces

Popis výsledku v původním jazyce

We present results of an application of X-ray laser, aimed at understanding the effects involved in formation of laser-induced damage in optical materials exposed to sub-ns laser pulses. A novel interferometric microscopy technique was designed and tested

Název v anglickém jazyce

X-UV interferential microscopy: a tool for the study of the spoiling of optical surfaces

Popis výsledku anglicky

We present results of an application of X-ray laser, aimed at understanding the effects involved in formation of laser-induced damage in optical materials exposed to sub-ns laser pulses. A novel interferometric microscopy technique was designed and tested

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2006

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal de Physique IV

ISSN

1155-4339

e-ISSN

—

Svazek periodika

138

Číslo periodika v rámci svazku

-

Stát vydavatele periodika

FR - Francouzská republika

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

245-260

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—