Korelace měření mikroskopie atomárních sil detekující lokální vodivost s mapováním mikro-Ramanovského rozptylu na tenkých vrstvách směsi polymeru s fullerenem

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F07%3A00093055" target="_blank" >RIV/68378271:_____/07:00093055 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/61389013:_____/07:00093055
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Correlation of atomic force microscopy detecting local conductivity and micro-Raman spectroscopy on polymer-fullerene composite films
Popis výsledku v původním jazyce
Prepared hetero-junction composite thin film of conductive polymer and fullerene is studied by several AFM techniques and micro-Raman mapping. The influence of microscopic morphologic and electronic properties on macroscopic behavior is discussed
Název v anglickém jazyce
Correlation of atomic force microscopy detecting local conductivity and micro-Raman spectroscopy on polymer-fullerene composite films
Popis výsledku anglicky
Prepared hetero-junction composite thin film of conductive polymer and fullerene is studied by several AFM techniques and micro-Raman mapping. The influence of microscopic morphologic and electronic properties on macroscopic behavior is discussed

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Popis výsledku