Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Damage of amorphous carbon induced by soft x-ray femtosecond pulses above and below the critical angle

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F09%3A00334026" target="_blank" >RIV/68378271:_____/09:00334026 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Damage of amorphous carbon induced by soft x-ray femtosecond pulses above and below the critical angle

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We present results of damage studies conducted at the Free Electron LASer in Hamburg (FLASH) facility with 13.5 nm (91.8 eV) and 7 nm (177.1 eV) radiations. The laser beam was focused on a sample of 890-nm-thick amorphous carbon coated on a silicon wafermimicking a x-ray mirror. The fluence threshold for graphitization was determined for different grazing angles above and below the critical angle. The observed angular dependence of F-th is explained by the variation in absorption depth and reflectivity. Moreover, the absorbed local dose needed for the phase transition leading to graphitization is shown to vary with the radiation wavelength.

  • Název v anglickém jazyce

    Damage of amorphous carbon induced by soft x-ray femtosecond pulses above and below the critical angle

  • Popis výsledku anglicky

    We present results of damage studies conducted at the Free Electron LASer in Hamburg (FLASH) facility with 13.5 nm (91.8 eV) and 7 nm (177.1 eV) radiations. The laser beam was focused on a sample of 890-nm-thick amorphous carbon coated on a silicon wafermimicking a x-ray mirror. The fluence threshold for graphitization was determined for different grazing angles above and below the critical angle. The observed angular dependence of F-th is explained by the variation in absorption depth and reflectivity. Moreover, the absorbed local dose needed for the phase transition leading to graphitization is shown to vary with the radiation wavelength.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Physics Letters

  • ISSN

    0003-6951

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    95

  • Číslo periodika v rámci svazku

    3

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    3

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000268405300011

  • EID výsledku v databázi Scopus