Characterization of the focused beam from a 10-Hz desktop capillary-discharge 46.9-nm laser

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F09%3A00335795" target="_blank" >RIV/68378271:_____/09:00335795 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/68081731:_____/09:00335795

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Characterization of the focused beam from a 10-Hz desktop capillary-discharge 46.9-nm laser

Popis výsledku v původním jazyce

The desktop size capillary-discharge Ne-like Ar laser (CDL) providing 10-?J nanosecond pulses of coherent 46.9-nm radiation with a repetition rate up to 12 Hz was developed and built at the Colorado State University in Fort Collins and then installed inPrague. The beam of the laser was focused by a spherical mirror covered with Si/Sc multilayer coating onto the surface of poly(methyl methacrylate) - PMMA. Interaction parameters vary by changing the distance between sample surface and beam focus. The samples were exposed to various numbers of shots. Analysis of damaged PMMA by atomic force (AFM) and Nomarski (DIC ? differential interference contrast) microscopes allows not only to determine the key characteristics of the focused beam (e.g. Rayleigh?s parameter, focal spot diameter, tight focus position, etc.) but also to investigate mechanisms of the radiation-induced erosion processes.

Název v anglickém jazyce

Characterization of the focused beam from a 10-Hz desktop capillary-discharge 46.9-nm laser

Popis výsledku anglicky

The desktop size capillary-discharge Ne-like Ar laser (CDL) providing 10-?J nanosecond pulses of coherent 46.9-nm radiation with a repetition rate up to 12 Hz was developed and built at the Colorado State University in Fort Collins and then installed inPrague. The beam of the laser was focused by a spherical mirror covered with Si/Sc multilayer coating onto the surface of poly(methyl methacrylate) - PMMA. Interaction parameters vary by changing the distance between sample surface and beam focus. The samples were exposed to various numbers of shots. Analysis of damaged PMMA by atomic force (AFM) and Nomarski (DIC ? differential interference contrast) microscopes allows not only to determine the key characteristics of the focused beam (e.g. Rayleigh?s parameter, focal spot diameter, tight focus position, etc.) but also to investigate mechanisms of the radiation-induced erosion processes.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II

ISBN

9780819476357

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

—

Název nakladatele

SPIE

Místo vydání

Bellingham

Místo konání akce

Prague

Datum konání akce

21. 4. 2009

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—