Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

The monitoring and the real-time control of an ultra-thin silver layer growth

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F09%3A00339879" target="_blank" >RIV/68378271:_____/09:00339879 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    The monitoring and the real-time control of an ultra-thin silver layer growth

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Silver is one of the most suitable materials for a fabrication of metal-dielectric optical devices due to its unique optical constants. The final performance of such devices significantly depends on a quality of the silver-dielectrics interface. This interface is mainly affected during the initial nucleation of the silver on a substrate. Therefore we focused our attention on a study of this stage of the silver growth. The silver layers were deposited by the magnetron sputtering. The initial stage of thenucleation and the layer growth was studied by means of an optical monitoring, which is based on a principle of spectrophotometric measurement of sample reflectivity. The measured data were fitted to a model including Fresnel coefficients. The non-continual (Volmer-Weber) mode of the layer nucleation was clearly distinguished in the monitored data. The non-continual layer was modeled by means of effective media approximations.

  • Název v anglickém jazyce

    The monitoring and the real-time control of an ultra-thin silver layer growth

  • Popis výsledku anglicky

    Silver is one of the most suitable materials for a fabrication of metal-dielectric optical devices due to its unique optical constants. The final performance of such devices significantly depends on a quality of the silver-dielectrics interface. This interface is mainly affected during the initial nucleation of the silver on a substrate. Therefore we focused our attention on a study of this stage of the silver growth. The silver layers were deposited by the magnetron sputtering. The initial stage of thenucleation and the layer growth was studied by means of an optical monitoring, which is based on a principle of spectrophotometric measurement of sample reflectivity. The measured data were fitted to a model including Fresnel coefficients. The non-continual (Volmer-Weber) mode of the layer nucleation was clearly distinguished in the monitored data. The non-continual layer was modeled by means of effective media approximations.

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů