Laser scanning confocal microscopy for 3D surface mapping

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F10%3A00356651" target="_blank" >RIV/68378271:_____/10:00356651 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Laser scanning confocal microscopy for 3D surface mapping

Popis výsledku v původním jazyce

This contribution introduces a modern microscopic method and shows possible measurements and analysis of wire saw machined glass pieces. The main objective of realized measurements is to identify possible defects and its depth to propose eventual additional treatment. We are looking for the optimal technological procedure of grooved glass stick-on supports preparation. Such supports are used for the very thin accurate optical components production which is executed in our workshops and laboratories. Surface quality of the support significantly influences the quality of produced optical components.

Název v anglickém jazyce

Laser scanning confocal microscopy for 3D surface mapping

Popis výsledku anglicky

This contribution introduces a modern microscopic method and shows possible measurements and analysis of wire saw machined glass pieces. The main objective of realized measurements is to identify possible defects and its depth to propose eventual additional treatment. We are looking for the optimal technological procedure of grooved glass stick-on supports preparation. Such supports are used for the very thin accurate optical components production which is executed in our workshops and laboratories. Surface quality of the support significantly influences the quality of produced optical components.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/KAN301370701" target="_blank" >KAN301370701: Nanostrukturní makroskopické systémy - technologie přípravy a charakterizace</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

SILICON 2010. 12th Scientific and Business Conference

ISBN

978-80-254-7361-0

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

—

Název nakladatele

TECON Scientific, s.r.o.

Místo vydání

Rožnov pod Radhoštěm

Místo konání akce

Rožnov pod Radhoštěm

Datum konání akce

2. 11. 2010

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—