Spot size characterization of focused non-Gaussian X-ray laser beams

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F10%3A00359300" target="_blank" >RIV/68378271:_____/10:00359300 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1364/OE.18.027836" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1364/OE.18.027836</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1364/OE.18.027836" target="_blank" >10.1364/OE.18.027836</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Spot size characterization of focused non-Gaussian X-ray laser beams

Popis výsledku v původním jazyce

We present a new technique for the characterization of non-Gaussian laser beams which cannot be described by an analytical formula. As a generalization of the beam spot area we apply and refine the definition of so called effective area (A(eff)) [1] in order to avoid using the full-width at half maximum (FWHM) parameter which is inappropriate for non-Gaussian beams. Furthermore, we demonstrate a practical utilization of our technique for a femtosecond soft X-ray free-electron laser. The ablative imprints in poly(methyl methacrylate) - PMMA and amorphous carbon (a-C) are used to characterize the spatial beam profile and to determine the effective area. Two procedures of the effective area determination are presented in this work. An F-scan method, newlydeveloped in this paper, appears to be a good candidate for the spatial beam diagnostics applicable to lasers of various kinds.

Název v anglickém jazyce

Spot size characterization of focused non-Gaussian X-ray laser beams

Popis výsledku anglicky

We present a new technique for the characterization of non-Gaussian laser beams which cannot be described by an analytical formula. As a generalization of the beam spot area we apply and refine the definition of so called effective area (A(eff)) [1] in order to avoid using the full-width at half maximum (FWHM) parameter which is inappropriate for non-Gaussian beams. Furthermore, we demonstrate a practical utilization of our technique for a femtosecond soft X-ray free-electron laser. The ablative imprints in poly(methyl methacrylate) - PMMA and amorphous carbon (a-C) are used to characterize the spatial beam profile and to determine the effective area. Two procedures of the effective area determination are presented in this work. An F-scan method, newlydeveloped in this paper, appears to be a good candidate for the spatial beam diagnostics applicable to lasers of various kinds.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Optics Express

ISSN

1094-4087

e-ISSN

—

Svazek periodika

18

Číslo periodika v rámci svazku

26

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

10

Strana od-do

27836-27845

Kód UT WoS článku

000285584200115

EID výsledku v databázi Scopus

—